LCR測試儀的等效電路模式

　　LCR測試儀測量被測物中流過的電流以及被測物兩端的電壓后再求出Z和θ。而且，L、C、R等測量參數(shù)根據(jù)Z和θ計(jì)算得出。計(jì)算測量參數(shù)值的運(yùn)算公式在串聯(lián)等效電路模式或并聯(lián)等效電路模式中是不同的。LCR測試儀端無法判斷被測物是哪一種電路模式，因此為了減小誤差需要選擇正確的等效電路模式。計(jì)算時(shí)假設(shè)串聯(lián)等效電路模式下Cs（或Lx）和電阻成分Rs為串聯(lián)連接，假設(shè)并聯(lián)等效電路模式下Cp（或Lp）和電阻成分Rp為并聯(lián)連接。

　　一般來說，測量大容量的電容或低阻抗的低阻元件（約100Ω以下）時(shí)，使用串聯(lián)等效電路模式，而測量低容量的電容或高阻抗的高阻元件（約10kΩ以上）時(shí)，使用并聯(lián)等效電路模式。各等效電路模式的測量值通過計(jì)算求出，因此可以顯示雙方的數(shù)值，但是請注意根據(jù)被測物不同所對應(yīng)的等效電路也會(huì)有差異。